数据采集与编辑实验报告

第1章　数字电路实验基础1 概述2　实验的基本过程1　实验预习2　实验中的EDA仿真3　实验中的操作规范4　布线原则5　数字电路测试6　数字电路的故障查找和排除7　实验记录和实验报告3　数字集成电路简介1　概述2　TTL器件的特点和工作条件3　TTL器件使用须知4　CMOS数字集成电路的特点5　CMOS器件使用须知6　数字IC器件的封装7　数字电路逻辑状态4　数字实验箱简介第2章　集成逻辑门电路1　集成逻辑门电路实验目的与要求2　集成逻辑门电路基础知识1　集成逻辑门电路的类型及特点2　典型门电路芯片3　TTL门电路的主要参数4　集成门电路的使用规则3　门电路的EDA仿真4　集成逻辑门功能测试5 门电路故障的分析及诊断6　实验报告及思考题第3章　组合逻辑电路1　全加器1　全加器实验目的与要求2　全加器基础知识3　全加器的EDA仿真4　全加器电路5　基于VHDL实现l位全加器6　组合逻辑电路故障检测7　实验报告及思考题2　译码器1　译码器实验目的与要求2　译码器基础知识3　译码器的EDA仿真4　译码器电路5　基于VHDL实现的8线译码器6　组合逻辑电路故障判断方法7　实验报告及思考题3　数据选择器1　数据选择器实验目的与要求2　数据选择器基础知识3　数据选择器的EDA仿真4　数据选择器电路5　基于VHDL实现的8选1数据选择器6　实验报告及思考题第4章　时序逻辑电路1 触发器1　触发器实验目的与要求2　触发器基础知识3　触发器的EDA仿真4　基本触发器电路5　基于VHDL实现的JK触发器6　触发器常见故障分析及诊断7　实验报告及思考题2　移位寄存器1　移位寄存器实验目的与要求2　移位寄存器基础知识3　移位寄存器的EDA仿真4　移位寄存器电路5　基于VHDL实现的8位移位寄存器6　移位寄存器常见故障分析及诊断……第5章　混合电路Chapter 6 Experiments of Digital Circuits第7章　数字电路应用设计第8章　数字电路实验参考资料参考文献

1）用户可在当前导线号和当前分层库的编辑框中查看，是否为当前数据采集的导线和分层。如果不是，需在导线库选择一条导线和分层库选择一个层号（说明是在本导线和本层号进行采样数据采集，同时在采样数据录入时，会自动把导线号、分层号带到采样数据库的导线、分层记录项），然后按“采样”按钮（图23）。图 22 编辑素描图2）屏幕自动弹出采样表框，然后按“ADD”增加一条新的采样记录。其他按钮说明如下：DEL：在列表框中，选中一条记录，按“DEL”则删除本记录。INSERT：在列表框中，选中一条记录，按“INSERT”，在该记录前增加一条记录。EDIT：在列表框中，选中一条记录，按“EDIT”则编辑本记录。Cancel：退出新增采样的操作。CLEAR：删除列表框中的所有记录。注意：需要按“OK”键后，才能真正把采样库的记录全部删除（图 24）。图 23 选择采样库图 24 编辑采样信息3）在采样数据输入对话框后，按“OK”，采样数据自动加入到采样库的列表框。该采样库的列表框按分层和采样编号的顺序排列。

在实验报告中，要建立一份图表，这样更直观的反映实验数据的内在规律性，以便于归纳总结。先建立统计表，然后对表中数据建立图表，根据图表的趋势分析总结实验的内在规律性。

你这问的太笼统了，一般是在实验数据基础上进行数据处理说白了也就是求各种”平均值“减小误差，与要验证的结果进行误差和分析，在给出误差范围内得出结论。。。希望对你有帮助ps:我大物的实验数据分析就是这样玩的。