集成电路芯片测试仪设计论文答辩

集成电路测试仪设计

集成电路测试仪设计-（毕业论文设计）.doc,北华大学毕业设计（论文） - PAGE 30 - 摘 要 随着数字集成电路日益广泛的应用，其相关的测试技术也显得愈发重要。

简易数字集成电路测试仪的设计与

简易数字集成电路测试仪的设计与实现（毕业论文）.doc,本科毕业设计论文 题 目 简易数字集成电路测试仪的设计与实现 所 在 系 电气与信息工程系 专 业 电子信息

基于DS1302芯片的电子时钟的设计

（1）时钟电路的设计：采用DS1302数字时钟芯片对年、月、日、周、日、时、分、秒进行计时，工作电压宽达2.5～5.5V。与单片机的接口使同步串行通信，仅用3条线与之相连接。该

毕业设计论文DA芯片测试系

毕业设计(论文)DA芯片测试系统的设计.doc,北京石油化工学院 学位论文电子版授权使用协议 论文《D/A芯片测试系统的设计》系本人在北京石油化工学院学习期间创作

分类号密级UDC注1超宽带自动

分类号密级UDC注1超宽带自动增益控制芯片设计题名和副题名作者姓名指导教师姓名**称、单位名称申请学位级别硕士学科专业通信与信息系统提交论文日期20140516论

毕业论文设计毕业设计数字集成电路测试仪doc

针对上述需要，我们针对常用的74系列逻辑芯片设计了一种数字电路芯片测试仪，用来检测常用74系列芯片的型号和逻辑功能的好坏，从而给数字电路的设计、制

集成电路芯片测试仪

集成电路芯片测试仪,主要用于测试74系列芯片，系统交互性好，运行可靠，设计报告完整，并有完整的设计代码，测试仪为基于51单片机实现。. 信

毕业设计论文基于单片机的便携式

在这里给出了整体的硬件电路设计思路，并且对电路的各个部分进行分析与解释。 第四章叙述程序的编程方案，给出程序的框架结构图并对整个设计进行总结，

基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计

基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计芯片测试仪,TTL,集成电路,芯片的,单片机,集成芯片,TTL电路,测试仪,测试TTL, 单片机设计 频道 豆丁首页 社区 企业工具

集成电路ESD静电防护设计及闩锁免疫研究

文集成电路 ESD 静电防护设计及闩锁免疫研究(题名和副题名)宋文强( 作者姓名)指导教师 刘俊杰 教 授电子科技大学 成都(姓名、职称、单位名称)申请学位级别 博士